HAST非飽和型老化試驗箱的基礎介紹

HAST非飽和型老化試驗箱適用于、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測，相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間.

1.HAST非飽和型老化試驗箱設備參數范圍?

答：蒸汽溫度范圍：100～135℃(143℃為特殊選用型)，蒸汽濕度范圍：75%～100%RH，氣壓范圍：0.1～0.296Mpa.

2.什么是HAST非飽和型老化試驗箱測試?

答：高壓蒸煮測試即為高溫，高濕，高氣壓測試

3.為什么要做HAST非飽和型老化試驗箱測試?

答：做高壓蒸煮的目的是驗證產品在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速產品的失效過程

4.HAST非飽和型老化試驗箱測試標準有哪些?

答：實驗室常用高壓蒸煮測試標準為：

JESD22-A102-C-2000加速抗濕性能測試(未飽和氣壓)

JESD22-A110-B-1999高加速溫度濕度應力測試

5.HAST非飽和型老化試驗箱主要測試樣品類型?

答：高壓蒸煮主要針對非密封性的固體樣品進行測試。

HAST非飽和型老化試驗箱測試產品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗，主要用于對電工、電子產品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對產品的物理以及其它相關性能進行測試，測試后，通過檢定來判斷產品的性能是否能夠達到要求，以便供產品的設計、改進、檢定及出廠檢驗使用。